耐電圧試験器で実現する高電圧I-V特性試験
一般的に半導体のI-V特性はカーブトレーサなど専用の高価な測定器が必要とされていました。あまりコストをかけたくない場合、耐圧試験機でも試験を行うことが可能です。多機能安全試験器7730を使うことによりカーブトレーサではできなかった5kVまでの高電圧I-V特性の計測が可能です。もちろん絶縁耐圧や絶縁抵抗試験などの一般的な安全試験器としても使用することができますので1台2役のご使用も可能となっております。
半導体の高電圧I-V特性計測の構成例
最大5kVまでの検査が可能
最小0.1μA分解能での高精度電流測定が可能
低価格（カーブトレーサーと比較して1/10程度）
| 最大印加電圧 | DC5kV（負荷容量0.04μF以下） ※ 50メモリ×30ステップ（ 最大1500ステップ）を1.0V分解能で設定可能 |
| 測定電流分解能 | 0.1μA（レンジ0.0 ～ 350.0μA） |
| 測定確度 | ±(2% of reading + 2counts) |
※ PCにより自動化する場合、別途コントロールソフトウエアが必要となりますが、弊社ではLabVIEWによる各種アプリケーションの作成も承っておりますので、どうぞお気軽にお問い合わせ下さい。
製品情報
| 製品名 | 型名 | 主な仕様 |
|---|---|---|
| 多機能安全試験器 | 7730 | AC/DC 耐電圧試験、絶縁抵抗測定 |
| 7730用オプション | Opt.731 | GP-IBインターフェース |
本アプリケーションに記載された情報は作成発行当時（発行年月日）のものとなりますので、現行としてシリーズ・機種・型式(オプション含む）が変更（後継含め）及び販売終了品による廃型になっているものが含まれておりますので、予めご了承下さい。
本情報はテストソリューションにおけるDUT（供試体）・JIG及び当社製品のアプリケーション構成フローのご参考としてご覧下さい。
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