2020-03-24 / 最終更新日 : 2024-02-08 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 大容量フィルムコンデンサの寿命試験 大容量フィルムコンデンサの試験では、高電圧の交流電圧発生装置が必要です。容量が大きい為電流は数十m~100mA程度、定格電圧まで出力可能な電源装置を準備し、寿命試験として1000時間連続印加し破壊の有無を確認します。
2020-03-24 / 最終更新日 : 2024-02-08 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 小容量フィルムコンデンサの寿命試験 小容量フィルムコンデンサの試験では、高電圧の交流電圧発生装置が必要です。容量が小さい為電流は数mA~10mA程度、定格電圧まで出力可能な電源装置を準備し、寿命試験として1000時間連続印加し破壊の有無を確認します。
2018-03-26 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin リップルノイズ測定 リップルノイズスキャナSC-82 による多CH測定 市販されている広帯域のスキャナ（信号切り替え器、マルチプレクサ）は、信号電送経路のGND側は共通になっているのが一般的です。広帯域特性を実現するためにはGND側を共通にした方が特性を得やすいためですが、多チャンネル出力のスイッチング電源は各出力のGNDが共通でないものが多いため、市販のスキャナでは問題となる場合があります。
2018-03-26 / 最終更新日 : 2024-02-09 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 JEITAのスイッチング電源に関する規格RC-9131B RC-9131B はスイッチング電源のAC/DC コンバータに関する試験規格であり、試験項目番号7.1の力率から試験項目番号7.37の雑音電界強度まで、37項目について規定しています。 ・7.1 力率 ・7.2 効率 ・ […]
2018-03-23 / 最終更新日 : 2024-02-09 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 JEITA のスイッチング電源に関する規格 2012年8月31日現在のスイッチング電源に関連する規格は以下のようなものがあり、JEITAのWebサイトから内容を閲覧することができます。（保存、印刷は不可） 規格書について JEITA規格書の印刷物は有料となっており […]
2018-03-22 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 電子負荷によるヒューズ溶断試験 汎用直流電源の出力に電子負荷を挿入し、経路の電流を高速にON/OFFすることによりヒューズの溶断試験に応用することができます。このアプリケーションでは最大960Aまで流せる電子負荷とファンクションジェネレータを組み合わせ、最大960Apeakのパルス電流を実現することができます。
2018-03-14 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 ATX電源の負荷変動試験 プラグインタイプの電子負荷装置でデュアルチャンネル負荷モジュールを使うことにより、簡単に6チャンネルの負荷装置を構築することが可能になるため、ATX電源の負荷変動試験を容易に行うことができます。
2018-03-14 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 高速応答電子負荷によるVRMの評価 CPUボードなどに搭載されているVRMコンバータの評価には、高速電子負荷装置及びVRMに対応した専用のフィクスチャ（治具）が必要となります。このアプリでは、超高速電子負荷装置ELS-304を使ったVRMコンバータの試験構成例をご紹介します。
2018-03-14 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 半導体直流パラメータの簡易測定 このアプリでは、汎用の直流電源、電子負荷等を使った半導体直流パラメータの簡易的な測定方法についてご紹介します。直流電源と電子負荷により駆動電流を急峻に変化させる試験（短パルス評価）、さらにFG（ファンクションジェネレータ）により電子負荷を制御し、サイン波形での試験（サイン半波評価）を行うことができます。
2018-03-14 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 電子負荷と直流電源によるIGBTのHブリッジ連続定格温度試験 自動車用モーター駆動回路に採用されているHブリッジ回路の評価や検査を行う際、実際のモーターを使ったり、抵抗で代用することは可能ですが、電流値を容易に変更出来ないことから様々な条件での試験には適していません。このような場合、高速応答可能な電子負荷装置を使用することにより様々な条件での試験を容易に行うことができます。
