2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 安全試験(耐電圧/絶縁抵抗/アース導通） 多ピンハーネスやコネクタの高速耐電圧試験 多ピンハーネスやコネクタの耐電圧試験は、そのピン数が多いことから１回の試験時間を最短で行うことが要求されるため、試験時間の高速な耐電圧試験器が必要となります。このアプリでは、最短300ms以下で１回の試験が可能な耐電圧試験器をご紹介します。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 電子負荷による電源電圧変動試験 一般的な汎用直流電源は単体で電圧の変更機能は持っていませんが、このような直流電源の出力に電子負荷装置を組み合わせることにより電圧変動試験を行うことが可能です。このアプリでは、汎用直流電源WSシリーズの出力に電子負荷装置LN-300Aを接続し、電子負荷装置の動作モードを定電圧でダイナミック（スイッチング）動作させて電源変動試験を実現する例をご紹介します。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 HEMS 組み込みAC/DCコンバータの評価試験 HEMS（Home Energy Management System）に組み込まれるAC/DC コンバータはシステム 全体の性能（効率）を左右することから重要な役割を担っており、その評価試験は重要です。 このアプリでは、このようなAC/DC コンバータの評価試験に最適な機器及びソフトウエアを ご紹介します。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-05 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 電子部品の寿命加速試験 このアプリでは、汎用の直流電源と電子負荷装置を組み合わせることにより各種電子部品に断続的な電流（パルス電流）を流すことによる寿命加速試験の例をご紹介します。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-05 pe_admin コンバータ(AC/DC、DC/DC)試験 Microsoft Excelによる自動計測 Microsoft 社のExcelは表計算ソフトウェアとして広く普及しています。このExcelにはマクロ （プログラム）開発環境としてVisual Basicが組み込まれており、計測器をコントロールする自動計測プログラムを比較的容易に作成することができます。また、Excel のワークシート上で作成できるため、測定結果をセルに取り込んでグラフ化するのも簡単です。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 SiC・GaNなどワイドバンドギャップ半導体の絶縁破壊試験 このアプリでは、ポストSiのパワー半導体としてますます高耐圧化が進んでいるSiC（シリコンカーバイト）とGaN（窒化ガリウム）の耐電圧試験に最適な10kV及び20kVの耐電圧試験器7700シリーズをご紹介します。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2021-12-16 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 パワーデバイス（MOSFET、IGBT）の大電流ONステート試験 直流電源の出力を高速大電流電子負荷により電流制御することで、大電流パルスを利用した パワーデバイスのONステート試験が可能となります。汎用の低価格な直流電源と高速電子負荷を組み合わせることで、比較的低価格で大電流パルスを生成することが可能です。 電子負荷装置は標準装備のブースター機能により複数台接続し、最大5kW, 2025Aまで容量アップして同期運転することができますので、あたかも1台の電子負荷装置として使用することができます。
2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 リードフレーム材料の評価 半導体などの様々なデバイスに使用されるリードフレーム材料の評価をする際、直流電源を使って電流を流し、電気抵抗や温度変化の測定が必要となります。このような場合、コンパクトワイドレンジ直流電源WSシリーズを使用すれば比較的ローコストに実現することができます。
2018-03-09 / 最終更新日 : 2023-09-08 pe_admin 安全試験(耐電圧/絶縁抵抗/アース導通） PLCによるコネクタの絶縁・耐圧高速試験方法 コネクタの生産ラインではより速いタクト時間が求められております。タクト時間の高速化とPLCとのコントロールは信頼性と高速化の要求には不可欠です。ランプアップ・ダウン時間及びデュエル時間が短く、PLCとの接続が可能な耐圧試験器を使用することで、コネクタの生産性を効率よく行うことができます。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-04 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 キャパシタのESL,ESRの検出・評価方法 近年ではFPGAやCPUの高速化により周辺に使われるキャパシタの低ESR化や低ESL化が進み計測が困難になってきておりますが、超高速電子負荷を用いることで、ESLやESRを分離して測定することが可能となりました。
