2018-03-06 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin 製品機能紹介 電子負荷によるIEC61215ホットスポット耐久試験 従来は専用のカーブトレーサが必要でしたが、当社独自のスイープモードを装備した電子負荷により、電子負荷単体でI-Vカーブの取得が可能となりました。また、電子負荷では大出力のPVにも対応することができ、定電流スイープモードにより最大出力動作電流IMPを容易に確認することができます。さらに測定したIMPを連続5時間、定電流運転することも可能です。
2018-03-06 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 電子負荷による太陽電池(PVパネル)の暴露試験 太陽電池の暴露試験を行う際、市販PCS(パワーコンディショナ)では動作条件を任意に設定することができないため、試験用途には適していません。このような場合、MPPT機能を搭載した電子負荷を使えば各種設定項目(スキャン時間や山登り法の電力ステップなど)を任意に設定できますので、より効率的に試験を行うことができます。
2018-03-06 / 最終更新日 : 2023-09-07 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 電子負荷単体で太陽電池のI-Vカーブ測定 従来、太陽電池(PV)のI-Vカーブ測定には専用のI-Vカーブトレーサが必要でしたが、スイープモード搭載の電子負荷装置を使えば負荷装置単体でI-Vカーブの測定が可能となります。定電流スイープモードによりI-VカーブをPCや専用のソフトウェアなしで測定することが可能であり、大容量電子負荷装置を使えば大出力のPV試験も可能です。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin 製品機能紹介 電子負荷スイープモードのデータをExcelに転送 当社電子負荷装置Load Stationシリーズは、新開発のスイープモードにより電子負荷単体でスイッチング電源の過電流保護(OCP) 試験や各種電池のI-V特性試験などを実行することが出来ます。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-08 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 高速応答型電流センサの評価 電流センサの評価には実電流を流す必要があり、今までは応答速度が速いバイポーラ電源が使われておりました。しかし大電流化(100A 以)に伴い、バイポーラ電源でも難しいケースが増えています。超高速電子負荷と汎用直流電源を使用することにより、標準品の組み合わせで構築することができるようになりました。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin 燃料電池(FC)試験 燃料電池スタック用100kHz インピーダンス測定 このアプリでは、500V耐圧の高速電子負荷とインピーダンスアナライザにより100kHzまでのインピーダンス測定を行う例をご紹介します。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin 燃料電池(FC)試験 燃料電池発電装置の負荷変動試験 燃料電池発電装置に内蔵されているインバータは、実際の家庭での使用条件に合わせた負荷変 動試験が必要となります。このアプリでは、GP-IBインターフェースを内蔵した交流電子負荷装置を 使った負荷変動試験の例をご紹介します。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-07 pe_admin 燃料電池(FC)試験 バイアス電源によるゼロV電子負荷の構築 一般的な汎用電子負荷装置では電流を流すことができません。端子電圧がゼロVになっても定格電流を流すことができるゼロV対応電子負荷装置が市販されていますが、すでに電子負荷装置をお持ちの場合、バイアス電源との組み合わせでゼロV対応電子負荷を構築することが可能です。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-04 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 キャパシタのESL,ESRの検出・評価方法 近年ではFPGAやCPUの高速化により周辺に使われるキャパシタの低ESR化や低ESL化が進み計測が困難になってきておりますが、超高速電子負荷を用いることで、ESLやESRを分離して測定することが可能となりました。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-08 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 電子デバイス向け電流サージ印加試験 容量性負荷やモータなどに流れる電流は小さな負荷であっても数ミリ、数マイクロ秒の短時間で数十アンペアとなることがあります。この電流サージは負荷をコントロールする回路、電子デバイスにも流れるためデバイスを破壊する可能性があります。このような電流サージを再現して保護デバイスや電子デバイスの耐性の評価が必要となります。