2018-03-06 / 最終更新日 : 2023-09-07 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 電子負荷単体で太陽電池のI-Vカーブ測定 従来、太陽電池(PV)のI-Vカーブ測定には専用のI-Vカーブトレーサが必要でしたが、スイープモード搭載の電子負荷装置を使えば負荷装置単体でI-Vカーブの測定が可能となります。定電流スイープモードによりI-VカーブをPCや専用のソフトウェアなしで測定することが可能であり、大容量電子負荷装置を使えば大出力のPV試験も可能です。
2018-03-06 / 最終更新日 : 2021-12-15 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 IEC61730-2に対応したPV耐電圧試験 PVモジュールのケーブルやジャンクションボックスの耐電圧試験を規定したIEC61730-2では、PVシステム電圧の4倍+2,000Vでの試験が求められており、システム電圧1,000V の場合、試験電圧が6,000Vとなります。このため一般的なDC耐電圧試験器の出力電圧(6,000V)ではマージンが全く無いことから、高電圧出力可能な試験器が必要となります。
2018-03-06 / 最終更新日 : 2021-12-15 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 太陽電池(セル)の多チャンネル高速I-V測定 太陽電池は、その特性上短時間にてI-V特性を測定しなければなりません。掃引時間と測定間隔が重要となります。MCDシリーズでは、チャンネル毎に最小3msecの高速測定及び2000ポイントの測定値をバッファリングすることができ、太陽電池の複数のセルを同時かつ高速にI-V測定することが可能です。専用機ではないため、廉価にご提案することができます。
2018-03-06 / 最終更新日 : 2023-09-07 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 太陽電池モジュールの絶縁検査 太陽電池モジュールの電気安全性検査に要求されるDC耐電圧試験では、厳しい電流測定精度が求めらております。要求事項では0.05mA(50μA)未満の測定精度を求めておりますが、一般的な高性能耐電圧試験機では、0.01mA(分解能)まで可能であり、それ以下の測定精度はありません。0.1 μAの分解能の耐圧試験器を使用することで、0.05mA未満の測定要求に対応することができます。
2018-03-06 / 最終更新日 : 2021-12-15 pe_admin 系統/スマートグリッド/太陽電池試験 太陽電池発電パワーコンディショナー試験 太陽電池発電装置用パワーコンディショナーの試験には直流電源、交流電子負荷装置が必要となります。従来の交流電子負荷装置では矩形波出力パワーコンディショナーの場合、電流波形が安定しないことがありましたが、新しいリニアCCモードの採用によりこのような場合でも安定した電流波形を実現しました。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin 燃料電池(FC)試験 燃料電池スタック用100kHz インピーダンス測定 このアプリでは、500V耐圧の高速電子負荷とインピーダンスアナライザにより100kHzまでのインピーダンス測定を行う例をご紹介します。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-11 pe_admin 燃料電池(FC)試験 燃料電池発電装置の負荷変動試験 燃料電池発電装置に内蔵されているインバータは、実際の家庭での使用条件に合わせた負荷変 動試験が必要となります。このアプリでは、GP-IBインターフェースを内蔵した交流電子負荷装置を 使った負荷変動試験の例をご紹介します。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-07 pe_admin 燃料電池(FC)試験 バイアス電源によるゼロV電子負荷の構築 一般的な汎用電子負荷装置では電流を流すことができません。端子電圧がゼロVになっても定格電流を流すことができるゼロV対応電子負荷装置が市販されていますが、すでに電子負荷装置をお持ちの場合、バイアス電源との組み合わせでゼロV対応電子負荷を構築することが可能です。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-04 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 キャパシタのESL,ESRの検出・評価方法 近年ではFPGAやCPUの高速化により周辺に使われるキャパシタの低ESR化や低ESL化が進み計測が困難になってきておりますが、超高速電子負荷を用いることで、ESLやESRを分離して測定することが可能となりました。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-08 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 電子デバイス向け電流サージ印加試験 容量性負荷やモータなどに流れる電流は小さな負荷であっても数ミリ、数マイクロ秒の短時間で数十アンペアとなることがあります。この電流サージは負荷をコントロールする回路、電子デバイスにも流れるためデバイスを破壊する可能性があります。このような電流サージを再現して保護デバイスや電子デバイスの耐性の評価が必要となります。