2018-03-13 / 最終更新日 : 2023-09-12 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 リードフレーム材料の評価 半導体などの様々なデバイスに使用されるリードフレーム材料の評価をする際、直流電源を使って電流を流し、電気抵抗や温度変化の測定が必要となります。このような場合、コンパクトワイドレンジ直流電源WSシリーズを使用すれば比較的ローコストに実現することができます。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2023-09-08 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 電子デバイス向け電流サージ印加試験 容量性負荷やモータなどに流れる電流は小さな負荷であっても数ミリ、数マイクロ秒の短時間で数十アンペアとなることがあります。この電流サージは負荷をコントロールする回路、電子デバイスにも流れるためデバイスを破壊する可能性があります。このような電流サージを再現して保護デバイスや電子デバイスの耐性の評価が必要となります。
2018-03-05 / 最終更新日 : 2022-06-27 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 耐電圧試験器で実現する高電圧I-V特性試験 半導体のI-V特性はカーブトレーサなど専用の高価な測定器が必要とされていましたが、多機能安全試験器7730を使うことによりカーブトレーサではできなかった5kVまでの高電圧I-V特性の計測が可能です。もちろん絶縁耐圧や絶縁抵抗試験などの一般的な安全試験器としても使用することができますので1台2役のご使用も可能となっております。