設計(半導体部品)変更時の再評価に便利な自動評価システム
新規に追加されつづける環境対応や半導体部品入手難および生産中止の背景から、完成品の設計変更（部品変更）し、取得データが同じ評価試験に設計エンジニアの方々は多くのリソースを投入しております。評価試験の大半は静的な試験が中心ですが自動化が進んでいない背景もあり、本来の設計業務以外のデータ取得を手動で実施しているケースがほとんどです。当社自動評価システムは、評価プログラムをソフトウェアの知識なくとも作成することができ、静的なデータ取得を自動化させリソース削減することができます。よって評価プログラムを外注化せず社内作成することが出来る為、コスト削減も可能です。
テストイメージ
特長
- プロセス自動生成機能にて、プログラムレスで自動計測の雛形の作成が可能
- 予算に合わせやすい！測定器1台から導入可能。また導入後の測定器の増設が可能
- 表・波形・グラフ形式からドラッグ＆ドロップのレイアウト変更だけでテストレポートを作成
関連製品
自動評価に関しましては、こちらの資料をご参照ください。
本アプリケーションに記載された情報は作成発行当時（発行年月日）のものとなりますので、現行としてシリーズ・機種・型式(オプション含む）が変更（後継含め）及び販売終了品による廃型になっているものが含まれておりますので、予めご了承下さい。
本情報はテストソリューションにおけるDUT（供試体）・JIG及び当社製品のアプリケーション構成フローのご参考としてご覧下さい。
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