μsオーダーの電流サージの再現可能な超高速応答電子負荷
半導体部品などの破壊試験やディレーティングの評価において、MOS-FETをON/OFFスイッチとして利用する方法でサージ電流を発生させ試験を実施しておりますが、サージ電流の時間幅や電流など任意の設定が出来ないことや、電流波形にチャタリングが発生してしまう点など、作成したスイッチ回路に様々な工夫が必要となります。超高速電子負荷ELS-304とファンクションジェネレータを用いた方法では、電子負荷側で高速に電流制御を行っている為、チャタリングの発生はなく、また任意の時間幅をファンクションジェネレータ側で設定することが出来る為、μsオーダーの電流サージの再現において最適な方法となります。
テストイメージ
特長
- パルス電流の再現に最適。最大200A/μsの立上がり/立下り電流の設定が可能
- 外部アナログ制御を使った負荷部の周波数特性が～500kHz（3dB以内）と広帯域
- 電流過渡応答の再現に最適な低インダクタスケーブルをアクセサリで準備
関連製品
本アプリケーションに記載された情報は作成発行当時（発行年月日）のものとなりますので、現行としてシリーズ・機種・型式(オプション含む）が変更（後継含め）及び販売終了品による廃型になっているものが含まれておりますので、予めご了承下さい。
本情報はテストソリューションにおけるDUT（供試体）・JIG及び当社製品のアプリケーション構成フローのご参考としてご覧下さい。
お気軽にお問い合わせください。044-223-79509:00-18:00 [土日・祝日除く]
お問い合わせ
