半導体部品などの破壊試験やディレーティングの評価において、MOS-FETをON/OFFスイッチとして利用する方法でサージ電流を発生させ試験を実施しておりますが、サージ電流の時間幅や電流など任意の設定が出来ないことや、電流波形にチャタリングが発生してしまう点など、作成したスイッチ回路に様々な工夫が必要となります。超高速電子負荷ELS-304とファンクションジェネレータを用いた方法では、電子負荷側で高速に電流制御を行っている為、チャタリングの発生はなく、また任意の時間幅をファンクションジェネレータ側で設定することが出来る為、μsオーダーの電流サージの再現において最適な方法となります。