アプリケーション情報を追加しました

新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。

安全試験器を用いた超高電圧V-t試験器（ACまたはDC）

固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社7470シリーズでは、999万8000時間まで試験時間設定と破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。