スイープモード（電子負荷）

スイープR（V-I特性試験） V-I特性試験は，CRモードで負荷をステップ状に変化させながら，電流値，及び電圧値を測定します。供試機器の定電流特性，電流遮断特性，及び電池特性試験などに使用できます。スイープの途中から，抵抗値変化を微細にできます。供試機器の特性に合わせた試験ができます。
測定値をグラフにして表示します。拡大，縮小などの操作でグラフ表示を見やすくできます。
スイープ時間単位は、200 msと 1000 msが選択できます。
設定範囲は、定常負荷モードの電流・電圧レンジと同等です。

スイープC（過電流保護特性試験） 過電流保護特性試験は，CCモードで負荷をステップ状に変化させながら，電流値，及び電圧値を測定します。供試機器の過電流保護特性試験に使用できます。電流値の上限値，及び下限値を設定して，特性の評価判定ができます。
測定値をグラフにして表示します。拡大，縮小などの操作でグラフ表示を見やすくできます。
スイープ時間単位は、200 msと 1000 msが選択できます。
設定範囲は、定常負荷モードの電流・電圧レンジと同等です。
判定結果をPASSとFAILで表示します。

スイープP（過電力保護特性試験） 過電力保護特性試験は，CPモードで負荷をステップ状に変化させながら，電力値，及び電圧値を測定します。供試機器の過電力保護特性試験に使用できます。電力値の上限値，及び下限値を設定して，特性の評価判定ができます。
測定値をグラフにして表示します。拡大，縮小などの操作でグラフ表示を見やすくできます。
スイープ時間単位は、200 msと 1000 msが選択できます。
設定範囲は、定常負荷モードの電流・電圧レンジと同等です。
判定結果をPASSとFAILで表示します。